- 全自动流程,薄膜分析更容易
- 高性能系统
- 光斑可视化,微光斑可至25x60 µm
- 功能齐全和灵活
- 智能诊断
日本HORIBA Auto SE 一键式全自动快速椭偏仪是一种新型薄膜测量工具。仅需简单的几个按钮,几秒钟内即可自动完成样品测量和分析,并提供完整的薄膜特性分析报告,包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀性、反射率或透过率。
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