400-995-8107
欢迎:退出
English
您现在的位置:首页 > 产品中心 > 产品中心

日本HORIBA X 射线荧光分析仪 MESA-50

日本HORIBA X 射线荧光分析仪 MESA-50 提供RoHS, ELV和无卤检测,对含有害元素如Pb、Cd、Hg、Br等的样品进行筛选式测量。

返回产品中心

功能特点技术参数资料下载使用说明书



1. 快速

  • 硅漂移检测器(SDD) 大幅度减少了测量时间,在高通量的同时提供了更高的灵敏度

2. 小巧

  • 便携、体积小、重量轻
  • 内部电池供电

3. 简单

  • 减少日常维护工作(无需液氮)
  • 无需真空泵
  • 各种材料测量直观简单

4.智能

  • 英文/日文/中文多语言操作界面
  • Excel® 数据管理工具

5. 安全

  • 无需担心 X 射线泄漏


400-995-8107